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簡要描述:探針座作為探針臺的核心部件,主要用途是連接探針和線纜,為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個導(dǎo)通條件,從調(diào)節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動,此外根據(jù)應(yīng)用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電行業(yè)的電學參數(shù)測試。此款為通用型0.5μm探針座,適合于對精度要求非常高的測試場景
詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 品牌 | 其他品牌 |
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價格區(qū)間 | 1-1萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,電氣,綜合 |
探針位移行程 | XYZ三維分別13mm,180°旋轉(zhuǎn),精密60°角度傾斜(可鎖緊) | 整體結(jié)構(gòu)外形尺寸 | 300mm*82mm*120mm(LWH) |
探針位移精度 | 0.5μm | 漏電精度 | 10pA@同軸線纜,100fA@進口三同軸線纜 |
可選接頭 | 同軸線纜(BNC、鱷魚夾、香蕉插頭)/進口三同軸線纜(三同軸接口) | 測量范圍 | 電流:10pA/100fA~10A , 電壓:≤1400V |
配同軸線纜型號 | TPLS005-UP(可選BNC/鱷魚夾/香蕉插頭) | 配三同軸線纜型號 | TPLS005H-UP |
產(chǎn)品介紹
探針座作為探針臺的核心部件,主要用途是連接探針和線纜,為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個導(dǎo)通條件,從調(diào)節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動,此外根據(jù)應(yīng)用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電行業(yè)的電學參數(shù)測試。
此款為通用型0.5μm探針座,適用于對調(diào)節(jié)精度要求較高的測試實驗。
技術(shù)優(yōu)勢
.主體材質(zhì)采用進口航空鋁,表面噴砂氧化,優(yōu)質(zhì)的機械性能;
.采用進口交叉滾珠導(dǎo)軌,超高穩(wěn)定性;
.采用進口高分辨率差動微分頭,分辨率高達0.5μm;
. 多功能調(diào)節(jié)夾具,可以實現(xiàn)180°旋轉(zhuǎn)及60°定向傾斜調(diào)節(jié);
.適用于在顯微鏡下定向調(diào)節(jié)探針,無視野遮擋;
.底部可調(diào)磁性底座,磁性吸附可達10Kg,保證扎針的穩(wěn)定性;
.可選配升級真空吸附,搭配7L/min真空泵。
細節(jié)展示
技術(shù)參數(shù)
常規(guī)選型
相關(guān)配件
同軸線纜,三同軸線纜
各種類型探針
應(yīng)用領(lǐng)域
適用于R/F測量,I/O點測量,直流DC測試,晶圓測試,電阻電壓測試,太陽能電池測試,光電流測試,半導(dǎo)體器件分析測試等。
譜量光電可根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求,定制通用型0.5μm探針座,以達更好的測試效果,具體信息可聯(lián)系詳詢。
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